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    X-RAY測厚儀標準片

    更新時間:2024-11-03

    簡要描述:

    X-RAY測厚儀標準片可應(yīng)用各種X射線測厚儀品牌,用于校正測厚儀標準及添加應(yīng)用程序,鍍層測厚儀標準片X-RAY膜厚儀校正片

      X-RAY測厚儀標準片
     
      標準片可應(yīng)用各種X射線測厚儀品牌
     
      用于校正測厚儀標準及添加應(yīng)用程序
     
      韓國XRF-2020測厚儀標準片
     
      銅/鎳/鋅/鉻/銀/金/鈀/錫/銠/鉑/鈀/鋅鎳合金等
     
      各種厚度范圍均可訂制,附帶標準證書
     
      鍍層測厚儀標準片
     
      X射線測厚儀在測金屬鍍層厚度時進行的標準化校準及建立測試檔案。
     
      是膜厚測試中常用的標準曲線法,是測量已知厚度或組成的標準樣品
     
      根據(jù)熒光X-射線的能量強度及相應(yīng)鍍層厚度的對應(yīng)關(guān)系,來得到標準曲線。
     
      以此標準曲線來測量鍍層樣品,以得到鍍層厚度或組成比率。
     
      對于PCB、電子元器件,端子連接器,五金電鍍和半導(dǎo)體等行業(yè)使用測厚儀來檢測品質(zhì)和控制成本起到了很重要的作用。
     
      鍍層測厚儀標準片X-RAY膜厚儀校正片實物如圖所示:
     
    X-RAY測厚儀標準片
     
      銅,鎳,鉻,鋅,金,銀,錫,鋅鎳,鈀,鉑,銠各種厚度及規(guī)格均可訂制,校準片均附帶證書
     

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